Pre dosiahnutie vysokokvalitných obrázkov a výsledkov v Skenovacom Elektrónovom Mikroskope je potrebné, aby boli skúmané vzorky vodivé. V prípade nevodivých vzoriek je potrebné vzorku povlakovať vodivou vrstvou, v opačnom prípade by nabíjanie povrchu generovalo obrazové aj dátové artefakty. Riešenia Leica pokrývajú širokú paletu potrieb od povlakovania v nízkom vákuu pri izbovej teplote až po povlakovanie vo vysokom vákuu pri kryogénnych teplotách.
