Preskočiť na obsah
Meranie.sk
  • Aplikácie
    • Meranie teploty osôb
    • Priemysel
    • Veda
    • Aplikácie skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM)
    • Kriminalistika
    • Security
    • Ochrana kultúrneho dedičstva
    • Biotechnológie
    • Mikrospektrofotometria
    • Dopravné systémy
  • Produkty
    • Merania
      • Spektrometria
      • 3D meranie
      • Meranie laserov
      • AFM
      • Meranie radiácie
    • Elektrónová mikroskopia
      • Elektrónové mikroskopy TESCAN
      • Prídavné zariadenia a software
      • Príprava vzoriek
    • RTG rádiodiagnostika
      • Micro-Computed Tomography (micro-CT)
      • Nikon XT V
      • Nikon XT H
      • Nikon XT H 225
      • Nikon RTG zdroje
    • Termografia
      • Termografické kamery
      • Priemyselné systémy
      • Termokamery pre vedu
      • Záchranárske hasičské kamery ISG/SCOTT
    • Vedecké kamery
      • PCO vedecké kamery
      • Vysokorýchlostné kamery
      • Termokamery pre vedu
      • Príslušenstvo
    • Lasery a optika
      • Lasery pre priemysel
      • Lasery pre vedu a výskum
      • Meranie laserov
      • Optické a optomechanické prvky
    • Kriminalistika a security
      • Kriminalistika a krimi analýzy
      • Security
    • Biotechnológie
      • Spracovanie odpadu
      • Malé pivovary
      • Bioreaktory
      • Spracovanie medu
    • IoC – Lokálny monitorovací systém dobytka
    • Univerzálny bezdrôtový merací systém WMS-TJNS
  • Meranie teploty osôb
    • MEDICAS
    • Hikvision systémy
    • Automatický systém KV-ATC
    • Ručné termokamery
    • FaceScan
    • Systém merania teploty osôb
    • Termografické riešenia merania teploty osôb
    • Riešenia a aplikácie prevencie epidémií
  • Služby
  • Referencie
  • O nás
  • Kontakt
Meranie.sk
  1. Home /
  2. Produkty /
  3. Elektrónová mikroskopia /
  4. Prídavné zariadenia a software /
  5. Oxford Instruments /

Oxford Instruments

Oxford Instruments NanoAnalysis je spoločnosť, ktorá na trh prináša špičkové technológie pre materiálovú analýzu a manipuláciou so vzorkou na nanometrovej úrovni.

Backscattered Electron and X-ray (BEX)

Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS)

Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

Wavelength Dispersive Spectroscopy (WDS)

Nanomanipulátory OmniProbe

Softvéry pre špecifické aplikácie

© 2024 KVANT spol. s r.o.