Skenovacia elektrónová mikroskopia je nedeštruktívna technika skúmania vzoriek v mikro- a nanomierke. K zobrazovaniu informácií využíva sondu elektrónového lúča a rôzne druhy detektorov. Skenovacie elektrónové mikroskopy vytvárajú snímky s veľkým zväčšením a vysokým rozlíšením, vďaka čomu sú vhodným nástrojom pre širokú škálu aplikácií v mnohých oblastiach vedy a priemyslu.
