Elektrónová mikroskopia
Spoločnosť TESCAN, a.s. ponúka elektrónové rastrovacie mikroskopy na báze volfrámovej katódy, Schottkyho emisie a systémy kombinované s iónovým lúčom.
Elektrónový tubus mikroskopov bol skonštruovaný na základe vlastného vývoja spoločnosti a mnohé prvky podliehajú patentovej ochrane. Medzi unikátne vlastnosti patrí: extrémne veľké zorné pole, možnosť optimalizovať parametre lúča podľa veľkosti zorného poľa a možnosť pozorovať vzorky trojrozmerne v reálnom čase. Samozrejmosťou je možnosť rozšíriť mikroskopy o ďalšie detektory: EDX, WDX, EBSD, EBIC, SIMS a pod.
Elektrónové mikroskopy TESCAN sú využívané v mnohých aplikáciách v materiálovom výskume, metalurgii a v nanotechnológiách.
V enviromentálnom prevedení nachádzajú uplatnenie aj v biológii, medicíne, chémii, kriminalistike a v iných odboroch.
Pozorovanie vzoriek pri vysokom zväčšení je len jedna z možností využitia elektrónových mikroskopov. Rozvoj nanotechnológií si vyžiadal potrebu vytvárať štruktúry s nanometrovými rozmermi a schopnosť manipulovať s objektami v tejto mierke. Mikroskopy Tescan sú vybavené softwarom pre elektrónovú litografiu na vytváranie štruktúr technológiou fotorezistu. Pri vyšších modeloch: priamo pomocou iónového lúča leptaním, alebo deponovaním vodivých aj nevodivých štruktúr.
Systémy je možné rozšíriť o nanomanipulátory pre priamu manipuláciu s mikroobjektami, ale aj pre lokálne elektrické merania.
Kombináciou nanomanipulátora, technológie leptania iónovým lúčom a systémom pre depozíciu vodivých a nevodivých štruktúr v jednom funkčnom celku, vznikajú úplne nové možnosti. V jednej vákuovej komore tak možno vykonať pozorovanie až s nanometrovým rozlíšením, s možnosťou leptania a deponovania, pričom každý krok môže operátor precízne kontrolovať.
Holografická mikroskopia
Unikátny multimodálny holografický mikroskop Q-PHASE je určený pre kvantitatívne fázové zobrazovanie (Quantitative Phase Imaging – QPI) a prírodné vedy. Jeho vlastnosti ho predurčujú k využitiu na biologický a biotechnologický výskum.
AFM – Atómová silová mikroskopia
Intenzívny rozvoj nanotechnológií, jednočasticovej elektroniky, ako aj biológie na molekulárnej úrovni, vyžaduje kvalitné vybavenie pre skúmanie na úrovni nanosveta.
Ponúkame komplexné riešenia pre nanosvet od rôznych svetových výrobcov podľa požiadaviek zákazníka.
Ťažisko tvoria modulárne systémy pre STM a AFM mikroskopiu a spektroskopiu. Dokážu ponúknuť vyše 20 rôznych analytických metód. Zásadnou prednosťou je možnosť integrovať systémy s inými meracími metódami: spektroskopia, tepelné merania, magnetické vlastnosti a pod.
Systémy s kombináciou AFM, konfokálnej Raman-Rayleighovej mikroskopie a skenovacej optickej a elektrónovej mikroskopie v blízkom poli, poskytujú obrovský analytický potenciál pre skúmanie nanosveta. Rôzne AFM techniky umožňujú študovať mechanické, elastické, magnetické, ale dokonca aj elektrické vlastnosti: vodivosť, kapacitanciu, odozvu na piezoelektrické javy a mnoho iných povrchových vlastností. Skenovacia mikrovlnná mikroskopia prekonáva tradičné mikroskopické techniky pri meraní elektrických vlastností nanovzoriek. Ponúka tak omnoho väčšiu univerzálnosť pre použitie v aplikáciách, schopnosť získať kvantitatívne výsledky, vyššiu citlivosť a dynamický rozsah pre použitie v priemysle.
Silové pôsobenie hrotu atómovej silovej mikroskopie alebo skenovacej tunelovej mikroskopie na vzorku, môže byť aj deštruktívne. Pri citlivom nastavení parametrov sa táto vlastnosť dá využiť na cielené vytváranie štruktúr na vzorke – nanolitografiu na atomárnej úrovni.
Rádiografia a RTG tomografia
RTG inšpekčné systémy sú flexibilné a vysoko presné riešenie určené pre defektoskopiu vo výskume a vývoji. 2D modely sú vhodné na kontrolu dosiek plošných spojov, BGA, mikrospojov, vnútornej integrity čipov a pod. 3D verzie poskytujú kompletnú nedeštruktívnu 3D tomografiu vhodnú na kontrolu rozmerov a tvarovej presnosti dielov, kontrolu v uzatvorených moduloch vyvíjaných pre elektroniku v automobilovom a leteckom priemysle, v medicíne, elektrotechnike, materiálovej analýze vo výskumných ústavoch. Tieto systémy našli uplatnenie aj v reštaurátorstve a ochrane umeleckých diel. Niektoré systémy sú kompaktné, uzatvorené a ich prevádzka nevyžaduje zavedenie špeciálneho režimu na pracovisku.
Systémy sú variabilné a je možné konfigurovať ich pre pokrytie veľkého množstva aplikácií.
Informácie k produktom nájdete v časti RTG rádiodiagnostika.
Snímanie dejov vysokocitlivými kamerami
Výhody vedeckých sCMOS kamier oceníte hlavne vtedy, ak potrebujete zobraziť objekty s extrémne nízkou hladinou osvetlenia a požadujete vysokú kvalitu obrazu a kameru s veľmi vysokou citlivosťou. Možnosti aplikácií a použitia: mikroskopia, mikroskopia s vysokým rozlíšením, fluorescenčná spektroskopia, konfokálna mikroskopia, mikroskopia so superrozlíšením, sledovanie dejov s extrémne nízkou hladinou svetla, astronómia röntgenová tomografia, kontrola kvality a iné.
Vysokorýchlostné snímanie
Vysokorýchlostné kamery sú určené na zaznamenávanie vysokorýchlostných dejov a procesov v technických procesoch a v prírode. Napr.: fyzika krátkych dejov a ich analýza, štúdia materiálov, hydrodynamika, automobilový priemysel, crash testy, testy airbagov, štúdia spaľovacích motorov, kontrola kvality, balistika, priebeh iskrenia v elektrických spínačoch a pod.
Snímanie v infračervenej oblasti
Termografická diagnostika je dnes vyhľadávanou metódou najmä pre jej rýchlosť, intuitívnu interpretovateľnosť výsledkov a výpovednú hodnotu. Využíva sa na identifikáciu rozloženia teplôt na elektronických účiastkach a dieloch, vedeckých prístrojoch, pri overovaní metód, vývoji zariadení a aplikácií, strojárstve, medicíne, vojenskej oblasti a pod.
3D mikrosvet
Optický mikroskopický skener Sensofar a Alicona na trojrozmernú rekonštrukciu vzoriek nájde využitie v materiálovom výskume, metalurgii, nástrojárstve a pod. Zariadenie skenuje povrch mikroskopickej vzorky a poskytuje metrologicky korektný model v troch rozmeroch. Umožňuje merať základné charakteristiky povrchov ako pórovitosť, drsnosť a pod., v zmysle štandardných noriem. Pokročilý software dokáže vykonávať porovnávania a rozmerové analýzy trojrozmerných štruktúr.
Systémy na objektívnu rekonštrukciu tretieho trojrozmerného povrchu vzoriek s metrologicky korektným vyhodnotením tretieho rozmeru, sú dôležitým nástrojom pri charakterizácii kvality povrchov ako je drsnosť, pórovitosť a pod. Okrem kompletnej informácie o tvare, umožňujú aj objektívne merania: objemu, hĺbky, opotrebenia nástrojov, porovnávania tvarov a pod.
Pokročilé techniky TEM litografie
Technika elektrónovej precesie pre transmisnú elektrónovú mikroskopiu zvyšuje výpovednú hodnotu klasických techník na báze elektrónovej difrakcie. Hardvérové rozšírenie TEM spolu s prepracovaným softvérom posúva analytické schopnosti mikroskopu, či už ide o mapy kryštalografickej orientácie, analýzu mechanického napätia v kryštalických zrnách, 3D difrakčnú tomografiu do nanometrových rozlíšení. Systém tiež obohacuje výsledky z techník EELS. Systémy ASTAR, DIGISTAR a TopSPIN je možné integrovať do moderných systémov novej generácie, ale nie sú zriedkavé ani rozšírenia starších 15 – 20 rokov starých mikroskopov.
Ultravákuový analytický systém – UHV
Ultravákuový analytický systém – UHV pracuje v ultravysokom vákuu od tlakov rádu 10-6 Pa. Analytický UHV systém sa využíva na skúmanie vlastností tenkých vrstiev. Obsahuje elektrónový analyzátor, zdroj RTG žiarenia pre XPS, zdroj VUV, tubus elektrónového rastrovacieho mikroskopu pre elektrónovú mikroskopiu a Augerovu skenovaciu mikroskopiu. Systém UHV je umiestnený v laboratóriách na Katedre experimentálnej fyziky Fakulty matematiky, fyziky a informatiky UK v Bratislave.
Depozičné zariadenia a sintrový lis
Pulzná laserová depozícia – PLD
Zariadenie pulznej laserovej depozície – PLD slúži na prípravu tenkých vrstiev, pre potreby materiálového výskumu a nanotechnológií. Systém je vybavený výkonným excimérovým laserom a in-situ meracími metódami: RHEED a elipsometria. Systém PLD je umiestnený v laboratóriách na Katedre experimentálnej fyziky Fakulty matematiky, fyziky a informatiky UK v Bratislave.
Plazmové depozičné zariadenie od spoločnosti PQL
Zariadenie od spoločnosti Plasma Quest Limited (PQL ) pracujúce na báze vlastnej technológie HiTUS poskytuje najvyššiu kvalitu a výkon pri nanášaní tenkých vrstiev s mimoriadne dobrými fyzikálnymi vlastnosťami, zvyčajne spájané s depozičnými technikami založenými na iónovom zväzku. Zároveň prináša výhody oveľa vyššej miery povlaku a aktívnej plochy vrátane osvedčenej spoľahlivosti výroby. Plazmové depozičné zariadenie S5000 R&D HiTUS System od spoločnosti Plasma Quest Limited (PQL ) je využívané v Ústave materiálov a mechaniky strojov SAV, Bratislava, detašované pracovisko INOVAL, Ladomerská Vieska.
Sintrový lis od spoločnosti Dr. Fritsch
Sintrový lis pracujúci technológiou „Direct Hot Pressing“ na prípravu materiálov pre depozičné zariadenie. Vyznačuje sa rýchlosťou, presnosťou a ekonomickou prevádzkou. Sintrový lis je používaný v Ústave materiálov a mechaniky strojov SAV, Bratislava, detašované pracovisko INOVAL, Ladomerská Vieska.
Tandemový urýchľovač iónov
Fakulta matematiky, fyziky a informatiky Univerzity Komenského v Bratislave buduje laboratórium vybavené tandemovým urýchľovačom iónov a hmotnostným analyzátorom. Spoločnosť KVANT spolupracovala na projekte ako dodávateľ urýchľovača a potrebného príslušenstva. Zabezpečovala kompletnú dodávku, refinancovanie, inštaláciu a potrebný servis v náročných časových a technologických podmienkach. Vďaka projektu získalo Slovensko špičkovú technológiu pre výskum a detekciu materiálov a ionizovaného žiarenia.
Tandemový urýchľovač iónov s napätím 3 MV vybavený iónovým analyzátorom patrí medzi jedinečné zariadenia v strednej Európe. Okrem silného vedeckého potenciálu dokáže identifikovať látky veľmi malou aktivitou, čo má veľký prínos v oblasti jadrovej bezpečnosti.
Kryogénna technika
Fyzikálny ústav Slovenskej akadémie vied a Katedra experimentálnej fyziky FMFI UK vytvorili laboratórium fyziky extrémne nízkych teplôt. Laboratórium je vybavené refrigerátorom, ktorý dosahuje teplotu od 10 mK. Na Slovensku ide o jedinečné zariadenie, ktoré umožňuje skúmať fyzikálne javy pri extrémne nízkych teplotách.
Zariadenie umožňuje vykonávať experimenty pri extrémne nízkych teplotách blízko absolútnej nuly. Tieto podmienky sa využívajú na štúdium kvantových javov. Laboratórium je vybavené meracou technikou a analyzátormi elektrických signálov na hranici možností súčasných technológií.
Mikrovlnný rozklad 
Príprava vzoriek na základe mikrovlnného rozkladu.
Rozklad vzoriek ako sú napr. potraviny, biologické , polymérne, kozmetické, farmaceutické, geologické, chemické a petrochemické vzorky. Ak potrebujete nahradiť klasický suchý rozklad, resp. mokrý rozklad, vysokotlakový mikrovlnný rozklad je ideálnym riešením.
Mikrovlnný rozklad šetrí čas a znižuje prevádzkové náklady.
Mikrovlnná syntéza 
Výkonné reaktory pre mikrovlnnú syntézu. Vysokoúčinné mikrovlnné reaktory určené na syntézu malých vzoriek v gramoch až po spracovanie kilogramových vzoriek za deň.
Navštívte náš svet mikrovlnnej syntézy, kde nájdete svoj ideálny reaktor a pozrite si aj databázu s viac ako 1 000 aplikáciami, ktoré sa úspešne vykonávajú v reaktoroch Anton Paar.
Mechanizovaná indentácia 
S univerzálnymi indentačnými prístrojmi Anton Paar je možné presne určiť mechanické vlastnosti tenkých filmov, povlakov alebo substrátov, ako sú tvrdosť alebo modul pružnosti.
Scratch testovanie
Scratch testery Anton Paar sa využívajú na charakterizáciu systémov film-substrát a kvantifikáciu parametrov, ako je adhézna a trecia sila použitím rôznych komplementárnych metód. To z nich robí neoceniteľné nástroje určovania adhézie vrstvy, odolnosti voči poškriabaniu a poškodeniu vo výskume, vývoji a kontrole kvality.
Tribometria 
Najširšie spektrum prístrojov na štúdium trenia a opotrebenia. Pozrite si tribometre Anton Paar.
Spoľahlivé a presné meranie trenia, opotrebenia a mazania do laboratórií, ale aj do priemyslu podľa priemyselných štandardov. Analýza vlastností trenia a opotrebenia materiálov pri vyšších teplotách (do 1000°C). V ponuke sú aj nanotribometre.
Reológia a reometre
Ak potrebujete zistiť, či má vaša vzorka správne vlastnosti tečenia, prípadne či dochádza k ich zmene počas prúdenia – reometre sú na to ideálnymi nástrojmi.
Reometre určené na splnenie vašich aplikačných požiadaviek, od rutinnej kontroly kvality až po najsofistikovanejšie R&D aplikácie.
Polarimetria
Polarimetre vhodné do každého laboratória. Svoje uplatnenie si nájdu hlavne vo farmaceutickom, kozmetickom, potravinárskom, chemickom a zdravotníckom priemysle, ale aj v R&D a medicínskych aplikáciách.
Refraktometria
Refraktometre Abbemat umožňujú univerzálne použitie pre meranie indexu lomu a koncentrácie kvapalín, gélov a pevných látok.
Ramanova spektrometria
Rodina Ramanových spektrometrov od spoločnosti Anton Paar ponúka ideálny prístroj na identifikáciu neznámej látky, skontrolu vzorky pri zabezpečení kvality, analýzu chemického zloženia vzoriek alebo sledovania ich zmien.
Analýza adsorbcie
Kompaktné, úplne automatické analyzátory s veľkou presnosťou merajú veľkosť pórov, plochu povrchu a špecifické interakcie medzi plynmi a pevnými látkami. Všetky tieto parametre sú nevyhnutné pre optimalizáciu adsorbentov, katalyzátorov, liečiv, batérií a ďalších poréznych materiálov. Pozrite si analyzátory adsorpcie Anton Paar.
Analyzátory hustoty pevných látok
Prístroje na analýzu skutočnej hustoty penových vzoriek, analýzu hustoty práškov a pevných látok a analýzu hustoty po strasení.
Porozimetria
Prístroje na meranie typu a veľkosti pórov. Ľahko ovládateľné kapilárne prietokové pórometre merajú priebežné póry vo filtračných materiáloch. Bezpečné ortuťové tlakové porozimetre s jednoduchým ovládaním merajú distribúciu a objem pórov, ktoré sú prístupné z vonkajšej časti materiálu. Pozrite si pórometre a porozimetre Anton Paar.
Analýza povrchového náboja a zeta potenciálu
Povrchová analýza je zásadná metóda kvalifikácie nových materiálov vo všetkých technických a biologických aplikáciách. Analýza povrchového náboja umožňuje užívateľom presne sledovať chemické charakteristiky povrchu od malých častíc, rádovo v nanometroch, až po veľké plochy.