Vedy o Zemi alebo aj geovedy pokrývajú širokú škálu vedeckých odborov, ktoré sa venujú podrobnej charakterizácii geologických materiálov. Skenovacia elektrónová mikroskopia (SEM) je v tejto oblasti kľúčovým nástrojom a poskytuje nielen vysokú rozlišovaciu schopnosť, ale aj niekoľko špecifických analytických možností. Zobrazovanie povrchov pomocou sekundárnych elektrónov predstavuje základnú metodiku mikropaleontológie, kde je topológia vzorky kľúčová informácia. Na druhej strane pre mineralógiu, petrológiu alebo ložiskovú geológiu je vhodnejšie zobrazovanie pomocou odrazených elektrónov (backscattered electrons). portfólio TESCANu obsahuje špecializované prístroje, ktoré sú schopné uspokojiť prakticky všetky požiadavky špecifických ako aj všeobecných geologických aplikácií.
TESCAN ponúka najmodernejšie SEM, FIB-SEM, 4D-STEM a micro-CT riešenia, ktoré umožňujú zobrazovať vzorky vo vysokom rozlíšení, s vysokým kontrastom a v niektorých prípadoch dokonca aj v dynamickom režime.
