BEX je priekopnícka analytická technika pre Skenovaciu Elektrónovú Mikroskopiu (SEM). Je založená na simultánnom zobrazovaní pomocou odrazených elektrónov (Backscattered Electron) a rtg lúčov (X-ray). Najlepšie z oboch zobrazovacích techník, ktoré doposiaľ fungovali separátne, je integrované do tejto jedinej metódy. BEX kombinuje topografické, kryštalografické, ako aj prvkové informácie do okamžitého obrazového výstupu. Operátor môže pri tom skenovať vzorku a hľadať oblasti vhodné na detailnejšie skúmanie.
